冷熱沖擊試驗(yàn)箱是測(cè)試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)，在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
 

　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱可以適用于電子元件，通訊，光纖，光纜，汽車零部件，金屬，化工材料，自動(dòng)化零件，塑料等行業(yè)，印刷電路板的化學(xué)變化或物理?yè)p壞引起的反復(fù)沖擊 ，電子芯片，國(guó)防工業(yè)，航空航天，化學(xué)變化或物理?yè)p壞。高溫和低溫沖擊產(chǎn)品，以及軍事工業(yè)中高分子材料和半導(dǎo)體的高低溫產(chǎn)品，靜態(tài)放置在溫度沖擊試驗(yàn)的測(cè)試區(qū)域，因?yàn)樗鼈冇扇齻€(gè)盒子組成。采用*的熱分離結(jié)構(gòu)，蓄熱和冷藏效果。
 

　　冷熱沖擊試驗(yàn)箱操作分為五部走：預(yù)處理、初始檢測(cè)、試驗(yàn)、恢復(fù)、后檢測(cè)，下面我們一起來(lái)了解一下詳細(xì)流程內(nèi)容。

　　預(yù)處理：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　初始檢測(cè)：將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)即可。
 

　　試驗(yàn)：

　　1、試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。

　　2、高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。

　　3、低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。

　　4、重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。

　　恢復(fù)：試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

　　后檢測(cè)：對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。